薄膜量測儀

膜厚量測

在現代工業製程中，膜厚的監控不僅對成品品質至關重要，還能直接影響產品的物理性質，例如光學透過率、保護性及耐用性等。因此，選擇合適的膜厚計是一項重要決策。

膜厚計的基本原理

膜厚計，顧名思義，是用來測量材料表面膜層厚度的儀器。根據量測方式，可分為接觸式（破壞式）與非接觸式（非破壞式）兩大類。每種方式都有其特性與適用範圍。

接觸式膜厚計

接觸式膜厚計，是透過探針或切割工具直接對膜層進行截斷，再觀察切面或高度差來量測膜厚。雖然測量過程可能損壞樣品，但這類方法具備高可靠性，對較厚且硬的膜層特別適用。

非接觸式膜厚計

非接觸式膜厚計則透過光學、電磁或其他無損方式進行膜層厚度測量，避免對樣品造成損壞。

如何選擇合適的膜厚計？

在挑選膜厚計時，需考量以下關鍵因素：

1. 膜層厚度膜
2. 膜材質
3. 樣品是否允許破壞？
4. 成本預算

選擇合適的膜厚計需要根據具體應用需求來綜合考量上述因素。了解膜層的厚度範圍、膜材質的特性、是否能容忍樣品損壞，以及成本預算，將幫助您選擇最合適的設備，確保測量結果的準確性與可靠性。選對膜厚計，不僅能提高測量效率，還能提升產品品質管理。